QR কোড
পণ্য
যোগাযোগ করুন


ফ্যাক্স
+86-579-87223657

ইমেইল

ঠিকানা
ওয়াংদা রোড, জিয়াং স্ট্রিট, উয়ি কাউন্টি, জিনহুয়া সিটি, ঝেজিয়াং প্রদেশ, চীন
A SiC-কোটেড ওয়েফার ক্যারিয়ারএকটি MOCVD চুল্লির ভিতরের তাপীয় এবং যান্ত্রিক ইন্টারফেসগুলির মধ্যে একটি। এটি একাধিক ওয়েফারকে সমর্থন করে, তাদের প্রক্রিয়া পরিবেশের মাধ্যমে ঘোরায় এবং প্রতিটি স্তরের নীচে তাপমাত্রার সীমানা স্থাপন করতে সহায়তা করে। গ্রাফাইট বডি মেশিনিবিলিটি এবং তাপ কার্যকারিতা প্রদান করে, যখনসিভিডি সিলিকন কার্বাইড কোটিনg একটি রাসায়নিকভাবে স্থিতিশীল, উচ্চ-বিশুদ্ধতা প্রক্রিয়া-মুখী পৃষ্ঠ তৈরি করে।
GaN এবং LED এপিটাক্সির জন্য, ইঞ্জিনিয়ারিং উদ্দেশ্য কেবল গ্রাফাইট রক্ষা করা নয়। বাহককে অবশ্যই সামঞ্জস্যপূর্ণ ওয়েফার তাপমাত্রা, মাত্রিক স্থিতিশীলতা এবং বারবার বৃদ্ধি এবং পরিষ্কারের চক্রের উপর পৃষ্ঠের অবস্থা বজায় রাখতে সহায়তা করতে হবে।
ধাতব-জৈব রাসায়নিক বাষ্প জমা একটি উচ্চ তাপমাত্রা-সংবেদনশীল এপিটাক্সিয়াল প্রক্রিয়ায় গ্যাস-ফেজ রসায়ন, তরল পরিবহন এবং তাপ স্থানান্তরকে একত্রিত করে। ওয়েফার ক্যারিয়ার সরাসরি সাবস্ট্রেটের নীচে বসে এবং তাই তাপ ব্যবস্থার অংশ হয়ে যায় যা প্রকৃত ওয়েফার-পৃষ্ঠের তাপমাত্রা নির্ধারণ করে।
একটি সরলীকৃত সম্পর্ক হল:
হিটার / শক্তির উৎস → SiC-কোটেড ওয়েফার ক্যারিয়ার → ওয়েফার থার্মাল বাউন্ডারি → ওয়েফার তাপমাত্রা → এপিটাক্সিয়াল গ্রোথ
এই সম্পর্ক GaN-ভিত্তিক উপকরণের জন্য বিশেষভাবে গুরুত্বপূর্ণ। InGaN কোয়ান্টাম কূপগুলিতে ইন্ডিয়াম অন্তর্ভুক্তি দৃঢ়ভাবে তাপমাত্রার উপর নির্ভরশীল, তাই স্থানিক তাপমাত্রার পার্থক্য LED ওয়েফার জুড়ে তরঙ্গদৈর্ঘ্যের অ-অভিন্নতাতে অবদান রাখতে পারে। MOVPE-উত্থিত GaN কাঠামোর উপর পরীক্ষামূলক কাজ সরাসরি ওয়েফার বো এবং পৃষ্ঠ-তাপমাত্রা বন্টনকে নির্গমন-তরঙ্গদৈর্ঘ্যের একজাতীয়তার সাথে যুক্ত করেছে।
ক্যারিয়ারকে তাই প্যাসিভ ট্রে হিসেবে দেখা উচিত নয়। এর জ্যামিতি, তাপীয় বৈশিষ্ট্য, ঘূর্ণন, পকেট নকশা এবং পৃষ্ঠের অবস্থা চুল্লি প্রবাহ এবং গরম করার সিস্টেমের সাথে যোগাযোগ করে।
এসআইসি-কোটেড গ্রাফাইট ওয়েফার ক্যারিয়ারগুলি এলইডি এমওসিভিডি-তে অপরিহার্য উপাদান হিসাবে এবং আবরণের গুণমান, তরঙ্গদৈর্ঘ্য বিচ্যুতি এবং উত্পাদন ফলনের সাথে স্পষ্টভাবে ক্যারিয়ার উপাদান বৈশিষ্ট্যগুলিকে সংযুক্ত করে।
একটি মাল্টি-ওয়েফার ক্যারিয়ারের জন্য, তাপীয় অভিন্নতা নামমাত্র হিটার তাপমাত্রার চেয়ে অনেক বেশি নির্ভর করে।
পকেটের গভীরতা, পকেটের ব্যাস, ক্যারিয়ারের সমতলতা, স্থানীয় দেয়ালের বেধ, ঘূর্ণনগত প্রতিসাম্য এবং ওয়েফার এবং ক্যারিয়ারের মধ্যে দূরত্ব সবই স্থানীয় তাপীয় সীমানাকে প্রভাবিত করে। পকেটের মধ্যে একটি ছোট জ্যামিতিক পার্থক্য বিভিন্ন ওয়েফারের নীচে পরিবাহী, বিকিরণ এবং গ্যাস-ব্যবধানের তাপ স্থানান্তর পরিবর্তন করতে পারে।
এর মানে মাত্রিক নির্ভুলতাও একটি তাপীয় স্পেসিফিকেশন।
একটি সরলীকৃত আকারে:
→ পকেট জ্যামিতি / সমতলতা
→ স্থানীয় তাপীয় প্রতিরোধ
→ ওয়েফার তাপমাত্রা
→ বৃদ্ধি গতিবিদ্যা
একই নীতি ক্যারিয়ারের ব্যাস জুড়ে প্রযোজ্য। কেন্দ্র এবং বাইরের ব্যাসার্ধের কাছাকাছি ওয়েফারগুলি গ্যাসের বেগ, পূর্ববর্তী ঘনত্ব এবং তাপ স্থানান্তরের বিভিন্ন সমন্বয় অনুভব করতে পারে। বাণিজ্যিক GaN MOCVD চুল্লির গণনামূলক গবেষণা দেখায় যে তরল প্রবাহ, তাপ স্থানান্তর এবং প্রজাতি পরিবহন সবই বিভিন্ন ওয়েফার জোন জুড়ে বৃদ্ধির হার এবং অভিন্নতার পার্থক্যে অবদান রাখে।
ঘূর্ণন কিছু স্থানিক প্রভাব গড়তে সাহায্য করে, কিন্তু এটি দুর্বল ক্যারিয়ার জ্যামিতি বা একটি অস্থির তাপীয় সীমানাকে দূর করে না।
একটি প্রযুক্তিগতভাবে যোগ্য ওয়েফার ক্যারিয়ারের তাই ম্যাক্রোস্কোপিক জ্যামিতি এবং স্থানীয় পকেট জ্যামিতি উভয়ের নিয়ন্ত্রণ প্রয়োজন।
গ্রাফাইট আকর্ষণীয় রয়ে গেছে কারণ এটি বড়, মাল্টি-পকেট ক্যারিয়ার জ্যামিতিতে নির্ভুলভাবে মেশিন করা যেতে পারে এবং তাপীয় পরিবেশের চাহিদা অনুযায়ী কাজ করতে পারে। বেয়ার গ্রাফাইট, যাইহোক, নাইট্রাইড MOCVD রসায়নের বারবার এক্সপোজারের জন্য একটি আদর্শ পৃষ্ঠ নয়।
CVD-SiC-প্রলিপ্ত উচ্চ-বিশুদ্ধতা গ্রাফাইট সাসেপ্টরগুলির উপর সাম্প্রতিক গবেষণা নোট করে যে গ্রাফাইট উচ্চ তাপমাত্রায় অক্সিডেশন, পরিধান, গ্যাস শোষণ এবং ধূলিকণা তৈরি করতে পারে। নাইট্রাইডের বৃদ্ধিতে, অ্যামোনিয়া পচনশীল পণ্যগুলি গ্রাফাইট ক্ষয়, কণা দূষণ সৃষ্টি করে এবং উপাদানের জীবনকে ছোট করে।
CVD SiC আবরণ একটি ঘন প্রক্রিয়া-মুখী পৃষ্ঠ প্রদান করে যা এই পরিবেশ থেকে গ্রাফাইটকে বিচ্ছিন্ন করতে সাহায্য করে।
এর ব্যবহারিক ফাংশনগুলির মধ্যে রয়েছে রাসায়নিক সুরক্ষা, দূষণ নিয়ন্ত্রণ, গ্রাফাইট সাবস্ট্রেটের কম এক্সপোজার এবং বারবার উচ্চ-তাপমাত্রা অপারেশনের সময় উন্নত পৃষ্ঠের স্থিতিশীলতা।
যাইহোক, আবরণ সম্পূর্ণ ক্যারিয়ার সিস্টেমের অংশ হিসাবে বিবেচনা করা আবশ্যক। লেপের বেধ একা গুণমান নির্ধারণ করে না। বেধের অভিন্নতা, রুক্ষতা, পিনহোল, মাইক্রোস্ট্রাকচার, ইন্টারফেসের অখণ্ডতা এবং গ্রাফাইট সাবস্ট্রেটের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণতা সব বিষয়।
গ্রাফাইট সাসেপ্টরগুলির উপর CVD-SiC আবরণগুলির একটি 2026 গবেষণায় দেখা গেছে যে সঠিকভাবে অপ্টিমাইজ করা আবরণগুলি রিপোর্ট করা MOCVD সাইক্লিংয়ের সময় প্রায় 1100°C GaN বৃদ্ধির পরিস্থিতিতে স্থিতিশীল ছিল, শুধুমাত্র একটি ছোট রুক্ষতা পরিবর্তনের সাথে এবং রিপোর্ট করা চরিত্রায়নে কোনও ইন্টারফেসিয়াল অবক্ষয় দেখা যায়নি।
দরকারী ইঞ্জিনিয়ারিং উপসংহারটি এই নয় যে একটি আবরণের একটি নির্দিষ্ট সার্বজনীন জীবনকাল রয়েছে, তবে সেই আবরণের কাঠামো এবং ইন্টারফেসের স্থায়িত্ব MOCVD পরিষেবার অধীনে ক্যারিয়ারের বয়স কীভাবে হয় তা দৃঢ়ভাবে প্রভাবিত করে।
MOCVD বৃদ্ধির হার এবং খাদ রচনা উভয়ই স্থানীয় প্রক্রিয়া অবস্থার জন্য সংবেদনশীল। LED স্ট্রাকচারের জন্য, তাপমাত্রার তারতম্য বিশেষভাবে গুরুত্বপূর্ণ কারণ InGaN-এ ইন্ডিয়ামের অন্তর্ভুক্তি ওয়েফার-সারফেস তাপমাত্রার সাথে পরিবর্তিত হতে পারে।
এটি নিম্নলিখিত প্রক্রিয়া চেইন তৈরি করে:
→ ক্যারিয়ার তাপীয় আচরণ
→ ওয়েফার তাপমাত্রা বিতরণ
→ বৃদ্ধির হার / রচনা
→ পুরুত্ব বা তরঙ্গদৈর্ঘ্য অভিন্নতা
→ ডিভাইস বিনিং এবং ফলন
এই চেইনটি সাবধানে ব্যাখ্যা করা উচিত।
একটি ওয়েফার ক্যারিয়ার একাই ফলন নির্ধারণ করে না। গ্যাস বিতরণ, অগ্রদূত রসায়ন, চাপ, চুল্লি নকশা, ওয়েফার বো, ঘূর্ণন এবং বৃদ্ধির রেসিপি প্রধান পরিবর্তনশীল। তবুও, ক্যারিয়ার হল হার্ডওয়্যার উপাদানগুলির মধ্যে একটি যা স্থিতিশীল থাকতে হবে যদি প্রক্রিয়াটি পুনরাবৃত্তিযোগ্য থাকে বলে আশা করা হয়।
SGL কার্বন রিপোর্ট করে যে SiC-কোটেড গ্রাফাইট ক্যারিয়ারগুলি তরঙ্গদৈর্ঘ্যের বিচ্যুতি হ্রাস করার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে এবং বলে যে উচ্চ তাপ পরিবাহিতা, মাত্রিক নির্ভুলতা এবং লেপের গুণমান উন্নত LED ওয়েফার আউটপুটে অবদান রাখে।
পুরানো মাল্টি-ওয়েফার GaN MOCVD কাজটিও একটি অভিন্ন সাসেপ্টর তাপমাত্রা ক্ষেত্র অর্জনের গুরুত্ব প্রদর্শন করেছে, বর্ণিত চুল্লি কনফিগারেশনের জন্য ±3°C পৃষ্ঠ-তাপমাত্রা বিতরণের চেয়ে ভাল রিপোর্ট করছে।
বৃহত্তর ইঞ্জিনিয়ারিং পাঠটি হল যে তাপমাত্রার অভিন্নতা শুধুমাত্র হিটার বা চুল্লি সেট পয়েন্টে নয়, ওয়েফার স্তরে মূল্যায়ন করা উচিত।
MOCVD চালানোর কোনো সর্বজনীন সংখ্যা নেই যার পরে প্রতিটি SiC-কোটেড ওয়েফার ক্যারিয়ার প্রতিস্থাপন করা উচিত।
পরিষেবা জীবন অপারেটিং তাপমাত্রা, প্রক্রিয়া রসায়ন, পরিষ্কার রসায়ন, তাপ সাইক্লিং, জমা বিল্ড আপ, আবরণ অখণ্ডতা, হ্যান্ডলিং এবং মাত্রিক স্থিতিশীলতার সম্মিলিত প্রভাবের উপর নির্ভর করে।
সাধারণ অবক্ষয় প্রক্রিয়ার মধ্যে রয়েছে পৃষ্ঠের রুক্ষকরণ, আবরণ ক্র্যাকিং, প্রান্ত পিলিং, স্থানীয় ডিলামিনেশন, পিনহোল, জমা জমা এবং পকেট জ্যামিতির পরিবর্তন।
এই ত্রুটিগুলির মধ্যে কিছু প্রাথমিকভাবে যান্ত্রিক অখণ্ডতাকে প্রভাবিত করে, অন্যরা বিপর্যয়কর ব্যর্থতা ঘটার আগে প্রক্রিয়া-মুখী অবস্থা বা স্থানীয় তাপীয় আচরণ পরিবর্তন করতে পারে।
একটি আরো দরকারী রক্ষণাবেক্ষণ প্রশ্ন তাই হল:
ওয়েফার তাপমাত্রা, দূষণের ঝুঁকি বা প্রক্রিয়া পুনরাবৃত্তিযোগ্যতা পরিবর্তন করার জন্য ক্যারিয়ার কি যথেষ্ট পরিবর্তিত হয়েছে?
আবেদনের উপর নির্ভর করে, পরিদর্শনে মাত্রিক চেক, সমতলতা পরিমাপ, পকেট-গভীরতা যাচাইকরণ, আবরণ-সারফেস পরিদর্শন এবং ঐতিহাসিক প্রক্রিয়া ডেটার সাথে তুলনা অন্তর্ভুক্ত থাকতে পারে।
পরিষ্কার করার কৌশল সমানভাবে গুরুত্বপূর্ণ। আক্রমনাত্মক পরিচ্ছন্নতা আমানত অপসারণ করতে পারে তবে রসায়ন বা পদ্ধতি উপাদানটির সাথে বেমানান হলে আবরণের অবক্ষয় ত্বরান্বিত করতে পারে।
এই কারণে, আজীবন অপ্টিমাইজেশানটি দৃশ্যমান ব্যর্থতার আগে কেবল রানের সংখ্যা সর্বাধিক করার পরিবর্তে পরিষেবা চক্র প্রতি স্থিতিশীল প্রক্রিয়া কর্মক্ষমতার উপর ফোকাস করা উচিত।
একটি প্রযুক্তিগতভাবে দরকারী RFQ এর জন্য একটি সাধারণ অনুরোধের পরিবর্তে চুল্লি এবং বৃদ্ধি প্রক্রিয়া দিয়ে শুরু হওয়া উচিতSiC-প্রলিপ্ত গ্রাফাইট প্লেট"
সরবরাহকারীকে MOCVD চুল্লি প্রস্তুতকারক এবং মডেল, ওয়েফার উপাদান এবং আকার, পকেটের সংখ্যা, বৃদ্ধির রসায়ন, অপারেটিং-তাপমাত্রার পরিসীমা, ক্যারিয়ার ঘূর্ণন ধারণা এবং পরিষ্কারের পদ্ধতি বোঝা উচিত।
অঙ্কন তারপর পকেট ব্যাস সংজ্ঞায়িত করা উচিত, গভীরতা, সমতলতা, বেধ, প্রান্ত জ্যামিতি এবং অন্যান্য সমালোচনামূলক সহনশীলতা. গ্রাফাইটের বিশুদ্ধতা, CVD SiC আবরণের প্রয়োজনীয়তা, পৃষ্ঠের রুক্ষতা এবং পরিদর্শন পদ্ধতিগুলি সেই প্রক্রিয়াগুলির প্রয়োজনীয়তার চারপাশে নির্দিষ্ট করা উচিত।
একটি ব্যবহারিক প্রকৌশল ক্রম হল:
চুল্লী → এপিটাক্সি প্রক্রিয়া → ওয়েফার লেআউট → ক্যারিয়ার জ্যামিতি → গ্রাফাইট → সিভিডি SiC আবরণ → পরিদর্শন
প্রতিস্থাপন বাহকদের জন্য, শুধুমাত্র নামমাত্র জ্যামিতি যথেষ্ট নাও হতে পারে। যোগ্য গ্রাফাইট গ্রেড, আবরণ স্পেসিফিকেশন, পকেট প্রোফাইল এবং প্রকৃত ঐতিহাসিক প্রক্রিয়া আচরণ সমানভাবে গুরুত্বপূর্ণ হতে পারে।
উদ্দেশ্য হল পরিসেবা মেয়াদে ক্যারিয়ার এবং ওয়েফারের মধ্যে একটি স্থিতিশীল সম্পর্ক বজায় রাখা:
মাত্রিক স্থিতিশীলতা + তাপীয় অভিন্নতা + পৃষ্ঠের অখণ্ডতা + নিম্ন কণার ঝুঁকি + পুনরাবৃত্তিযোগ্য এপিটাক্সি
1. কেন MOCVD ওয়েফার ক্যারিয়ারগুলি SiC-কোটেড গ্রাফাইট থেকে তৈরি হয়?
গ্রাফাইট জটিল মাল্টি-ওয়েফার জ্যামিতির জন্য মেশিনিবিলিটি এবং তাপীয় কার্যকারিতা প্রদান করে, যখন CVD SiC আরও রাসায়নিকভাবে স্থিতিশীল এবং দূষণ-প্রতিরোধী প্রক্রিয়া-মুখী পৃষ্ঠ প্রদান করে।
2. কিভাবে একটি ওয়েফার ক্যারিয়ার MOCVD তাপমাত্রার অভিন্নতাকে প্রভাবিত করে?
বাহকের সমতলতা, পকেটের গভীরতা, উপাদান বৈশিষ্ট্য এবং স্থানীয় জ্যামিতি প্রতিটি ওয়েফারের নীচে তাপ স্থানান্তরকে প্রভাবিত করে। স্থানীয় ওয়েফার তাপমাত্রা নির্ধারণ করতে এই কারণগুলি চুল্লি গরম করার, গ্যাস প্রবাহ এবং ওয়েফার ঘূর্ণনের সাথে যোগাযোগ করে।
3. কেন GaN এবং LED এপিটাক্সির জন্য তাপমাত্রার অভিন্নতা গুরুত্বপূর্ণ?
বৃদ্ধির হার এবং খাদ সংমিশ্রণ তাপমাত্রা সংবেদনশীল। InGaN-ভিত্তিক LED কাঠামোতে, ওয়েফার-পৃষ্ঠের তাপমাত্রার বৈচিত্র্য তরঙ্গদৈর্ঘ্যের তারতম্যে অবদান রাখতে পারে এবং তাই ডিভাইস বিনিং এবং প্রক্রিয়া ফলনকে প্রভাবিত করে।
4. কিসের কারণে SiC-কোটেড ওয়েফার ক্যারিয়ারগুলি পরিষেবা কার্যক্ষমতা হারাতে পারে?
সাধারণ কারণগুলির মধ্যে রয়েছে আবরণ ক্র্যাকিং বা ডিলামিনেশন, পৃষ্ঠের রুক্ষকরণ, জমা জমা, তাপীয় সাইক্লিং, আক্রমনাত্মক পরিষ্কার, পকেট পরিধান এবং মাত্রিক প্রবাহ।
5. একটি কাস্টম MOCVD ওয়েফার ক্যারিয়ার RFQ এর জন্য কোন তথ্য প্রয়োজন?
চুল্লি মডেল, ওয়েফার আকার এবং উপাদান, পকেট বিন্যাস, অঙ্কন বা STEP ফাইল, প্রক্রিয়া তাপমাত্রা, বৃদ্ধি এবং পরিস্কার রসায়ন, সমালোচনামূলক মাত্রা, গ্রাফাইট প্রয়োজনীয়তা, SiC আবরণ স্পেসিফিকেশন, পৃষ্ঠ-সমাপ্তির প্রয়োজনীয়তা, পরিদর্শনের মানদণ্ড এবং পরিমাণ প্রদান করুন।
1. SGL কার্বন — LED চিপ উৎপাদনের জন্য বিশেষ গ্রাফাইট। SiC-কোটেড গ্রাফাইট ওয়েফার ক্যারিয়ার, তাপ পরিবাহিতা, মাত্রিক সহনশীলতা, তরঙ্গদৈর্ঘ্য অভিন্নতা এবং ক্যারিয়ারের জীবনকাল সম্পর্কে প্রযুক্তিগত তথ্য।
2. হুও, ওয়াই এবং অন্যান্য। - "গ্রাফাইট সাবস্ট্রেটগুলিতে CVD-SiC আবরণগুলিতে প্রক্রিয়া-কাঠামো-সম্পত্তি পারস্পরিক সম্পর্কের অধ্যয়ন।" বৈজ্ঞানিক রিপোর্ট, 2026।
3. GaN-ভিত্তিক লেজার ডায়োড কাঠামোর MOVPE বৃদ্ধির সময় ওয়েফার পৃষ্ঠের তাপমাত্রার অভিন্নতা। জার্নাল অফ ক্রিস্টাল গ্রোথ, 2011।
4. একটি MOCVD চুল্লিতে প্রজাতির পরিবহন এবং রাসায়নিক বিক্রিয়া এবং GaN বৃদ্ধির অভিন্নতার উপর তাদের প্রভাব। জার্নাল অফ ক্রিস্টাল গ্রোথ, 2016।
+86-579-87223657
ওয়াংদা রোড, জিয়াং স্ট্রিট, উয়ি কাউন্টি, জিনহুয়া সিটি, ঝেজিয়াং প্রদেশ, চীন
কপিরাইট © 2024 WuYi TianYao New Material Tech.Co.,Ltd. সর্বস্বত্ব সংরক্ষিত।
Links | Sitemap | RSS | XML | গোপনীয়তা নীতি |